非接觸式三坐標(biāo)測量的優(yōu)缺點(diǎn)

非接觸式三坐標(biāo)測量，有如下突出的優(yōu)點(diǎn)：

(1) 能夠快速收集到測量曲面的計算機(jī)建模信息，用于CAD、FEM分析等；

(2) 測量點(diǎn)云能夠?qū)崿F(xiàn)與CAD數(shù)據(jù)、工程圖或樣本的對比；

(3) 能夠?qū)α慵M(jìn)行快速復(fù)制，快速成型或數(shù)控加工；

(4) 能夠應(yīng)用數(shù)字化樣機(jī)；

(5) 能夠測量體積小、形狀復(fù)雜和體積很大的被測零件；

(6) 測量點(diǎn)云的噪聲點(diǎn)數(shù)量小，并且可以經(jīng)過調(diào)整而進(jìn)一步減少噪聲點(diǎn)；

(7) 接觸式測量設(shè)備不能測量的結(jié)構(gòu)，如內(nèi)部結(jié)構(gòu)，各種柔軟的、易變形的物體和不可接觸的高精密被測件等；

(8) 能夠裝在機(jī)器人上實(shí)現(xiàn)自動測量；

(9) 重量輕、結(jié)構(gòu)緊湊、操作簡單；

(10) 帶有先進(jìn)的計算和渲染測量點(diǎn)云的功能。

 非接觸式三坐標(biāo)測量的主要缺點(diǎn)：

(1) 因?yàn)榉墙佑|式測頭大多是接收被測件表面的反射光或散射光，容易受到被測件表面的反射特性的影響，如顏色、斜率等；

(2) 測頭容易受到環(huán)境光線及雜散光影響；

(3) 非接觸式測量只做被測件輪廓坐標(biāo)點(diǎn)的大量取樣，不能進(jìn)行面上指定點(diǎn)的測量，對邊線及凹孔等的處理比較困難；

(4) 使用光學(xué)測頭測量時，測量鏡頭的焦距調(diào)整會影響測量精度；

(5) 被測件表面的粗糙度會影響測量結(jié)果；

(6) 光學(xué)陰影處及光學(xué)焦距變化處是測量死角。