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如何選擇合適的三坐標測量儀測頭

發(fā)布時間:2019-06-26

三坐標測量儀測頭三坐標的重要組成部分之一,是測量機觸測被測零件的發(fā)訊開關,測頭精度的高低決定了測量機的測量重復性。此外,不同零件需要選擇不同功能的測頭進行測量。

測頭可分為接觸式和非接觸式(激光等類型)。目前主要用接觸式測頭,接觸式測頭又可分為開關式(觸發(fā)式或動態(tài)發(fā)訊式)與掃描式(比例式或靜態(tài)發(fā)訊式)兩大類。

那么怎么去選擇適合自己使用的三坐標測量儀測頭呢?這里主要取決于被測物體,不同的被測物體確定選用什么樣的三坐標測頭。那么,什么場合下使用不同的三坐標測頭呢?我們要先了解這些測頭的不同之處,明白各自的優(yōu)缺點才能更好的幫助我們去選擇。

1. 當零件所被關注的是尺寸,間距或位置,而并不強調其形狀誤差,或確信所用的加工設備有能力加工出形狀足夠好的零件,而注意力主要放在尺寸和位置精度時,接觸式觸發(fā)測量是合適的,特別是對于離散點的測量。

觸發(fā)式測頭測尺寸,間距或位置比掃描測頭快,觸發(fā)測頭體積較小,當測量空間狹窄時測頭易于接近零件。

一般來講觸發(fā)式測頭使用及維修成本較低,在機械工業(yè)中有大量的幾何量測量,所關注的僅是零件的尺寸及位置,所以目前市場上的大部分三坐標測量儀中,特別是中等精度測量機,仍然使用接觸式觸發(fā)測頭。

2. 選用掃描測頭的場合

應用于有形狀要求的零件和輪廓的測量。掃描方式測量的主要優(yōu)點在于能高速的采集數據,這些數據不僅可以用來確定零件的尺寸及位置,更重要的是能用眾多的點來精確的描述形狀,輪廓,這特別適用于對形狀,輪廓有嚴格要求的零件,該零件形狀直接影響零件的性能,也適用于不能確信所用的加工設備能加工出形狀足夠好的零件,而形狀誤差成為主要問題時的情況。由于掃描測頭對離散點測量是勻速或恒測力采點,其測點精度可以更高。

同時,掃描測頭可以直接判斷接觸點的法矢,對于要求嚴格定位,定向測量的場合,掃描測頭對離散點的測量也具有優(yōu)勢。

對于未知曲面的掃描,亦即稱為數字化的場合下,掃描測頭顯示出了它的獨特優(yōu)勢,回為數字化工作方式時,需要大量的點,觸發(fā)式測頭的采點方式顯得太慢,由于是未知曲面,測量機運動的控制方式亦不一樣,即在“探索方式”下工作,測量機根據已運動的軌跡來計算下一步運動的軌跡,計算采點密度等。

3.  使用接觸式測頭非接觸式測頭的場合

(1) 非接觸測頭的特點。非接觸測頭沒有測量力,適于柔軟物體,非接觸式測頭取樣率高,在50次/秒到23000次/秒之間,適于表面形狀復雜,精度要求不特別高的未知曲面,例如汽車、家電的木模,泥模等。但非接觸測頭由于受物體表面特性的影響較大,目前在大多數情況下,示值誤差比接觸式測要大,保持在10微米級以上。同時,非接觸測頭的價格一般較貴。

(2) 選用非接觸式測頭的原則。在可以應用接觸式測頭的情況下,慎選非接觸式測頭,在只測尺寸 ,位置要素的情況下盡量選接觸式觸發(fā)測頭,考慮成本又能滿足要求的情況下,盡量選接觸式觸發(fā)測頭,易變形零件,精度不高零件,要求超大量數據零件的測量,可以考慮采用非接觸式測頭,要考慮軟件,附加硬件的配套。

4. 掃描測頭的優(yōu)勢及劣勢

優(yōu)勢:

(1) 適于形狀及輪廓測量

(2) 高的采點率

(3) 高密度采點保證了良好的重復性,再現性

(4) 更高級的數據處理能力

劣勢:

(1) 比觸發(fā)測頭復雜

(2) 對離散點的測量較觸發(fā)測頭慢

(3) 高速掃描時由于加速度而引起的動態(tài)誤差很大,不可忽略,必須加以補償

(4) 針尖的磨損必須注意

5. 觸發(fā)測頭的優(yōu)勢及劣勢

優(yōu)勢:

(1) 適于空間箱體類工件及已知表面的測量

(2) 通用性強

(3) 有多種不同類型的觸發(fā)測頭及附件供采用

(4) 采購及運行成本低

(5) 應用簡單

(6) 適用于尺寸測量及在線應用

(7) 堅固耐用

(8) 體積小,易于在窄小空間應用

(9) 由于測點時測理機處于勻速直線低速狀態(tài),測量機的動態(tài)性能對測量精度影響較小

 劣勢:測量取點率低

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